直接分析高纯度固体材料的最佳工具

直接分析高纯度固体材料的理想工具

GD-MS 辉光放电质谱仪是直接分析金属、半导体和陶瓷粉(例如 Al2O3 或 SiC)的理想工具。拥有出色的半定量功能,深度分析的应用所涉及的厚度从纳米到 100µm 不等。使用超灵敏且准确的 Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD-MS 确保您的高纯度材料符合规格。

特色辉光放电质谱仪

了解如何借助 ELEMENT GD PLUS GD-MS 为固体中高级高纯度材料的直接分析定义新的标准。GD-MS 以最少的校准和样品制备实现高样品通量和超低检出限,使得整个金属、陶瓷粉末和深度分析的应用成为 GD-MS 的主要应用领域。 非导体粉末可采用二次电极进行分析,并具备相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。

 

了解辉光放电技术的优势

微秒级脉冲、高流速、大功率

相较静态 GD,该独特技术具有出色的灵敏度和较低的多原子干扰,稳定性绝佳、准确度极高并能缩短分析时间,在金属和合金检测方面的准确度为 ±30%(无需校准)。

双聚焦质谱仪

高离子传输率结合低背景噪声, 铸就了无可比拟的信噪比和低至亚 ppb 级的检出限。高质量分辨率实现完美选择性和准确度。

十二数量级的自动检测系统

>拥有 12 个数量级线性动态范围的全自动检测器可在一次扫描中同时测定基体和超痕量元素。

高效易用的先进软件包

所有参数均由计算机控制,可实现全自动分析、数据评估以及与自动数据传输的 LIMS 连接性。

关键特性
  • 设计独特,具有最高的准确度和广泛可调的溅射速率,非常适合整体分析和深度分析的应用
  • 灵敏度高,分析时间短
  • 样品间切换简单快速
  • 无需液氮冷却即可具有较低的多原子干扰
  • 灵活的样品池,适用于平板样品、压片粉末和针状样品
  • 插拔式锥形阳极部件,便于快速更换,以免有样品残留
GD-MS Plus GD Mass Spectrometer Ion Source
微秒级脉冲、高流速、大功率

相较静态 GD,该独特技术具有出色的灵敏度和较低的多原子干扰,稳定性绝佳、准确度极高并能缩短分析时间,在金属和合金检测方面的准确度为 ±30%(无需校准)。

双聚焦质谱仪

高离子传输率结合低背景噪声, 铸就了无可比拟的信噪比和低至亚 ppb 级的检出限。高质量分辨率实现完美选择性和准确度。

十二数量级的自动检测系统

>拥有 12 个数量级线性动态范围的全自动检测器可在一次扫描中同时测定基体和超痕量元素。

高效易用的先进软件包

所有参数均由计算机控制,可实现全自动分析、数据评估以及与自动数据传输的 LIMS 连接性。

关键特性
  • 设计独特,具有最高的准确度和广泛可调的溅射速率,非常适合整体分析和深度分析的应用
  • 灵敏度高,分析时间短
  • 样品间切换简单快速
  • 无需液氮冷却即可具有较低的多原子干扰
  • 灵活的样品池,适用于平板样品、压片粉末和针状样品
  • 插拔式锥形阳极部件,便于快速更换,以免有样品残留
GD-MS Plus GD Mass Spectrometer Ion Source