FTIR采样技术： 衰减全反射 (ATR)

ATR非常适用于透射测量时常常会产生强烈峰值的强吸收或厚样品。 ATR对这类样品很有效，由于衰减波的强度随着与 ATR晶体表面的距离成指数级衰减，使得该技术通常对样品厚度不敏感。 

其他非常适合于ATR的固体包括均匀的固体样品，多层固体的表层或固体的涂层。 甚至是不规则形坚硬固体也能使用坚硬的ATR晶体材料（比如金刚石）进行分析。 理想固体包括：

另外，ATR常常是液体分析的首选方法，因为它只需要将一滴液体置于晶体上即可。 ATR可用于分析：

• 几乎无需进行样品制备——将样品置于晶体上，然后收集数据
• 清洗快速、便捷——只需移除样品，清洁晶体表面
• 可以对自然状态下的样品进行分析——无需加热，按压成球状或者磨碎以收集光谱
• 在厚样品或强吸收样品分析方面表现出色——非常适用于诸如黑色橡胶等难分析样品
  
  

简化光谱分析： FTIR中的ATR采样

衰减全反射 (ATR) 采样彻底改变了FTIR光谱法，实现了简单的样品处理和几乎可以通用的适用性。 该网络讲座将介绍ATR的原理和基本使用方法以及理念，并且会讲解多个示例。 注册此应要求举办的网络讲座，了解更多信息。