电子显微镜检查样品制备系统

Thermo Scientific™ μPolisher 系统是一种独特的解决方案，适用于原位、较低能量的局部表面修饰，包括抛光和清洗散装样品。系统使用带可调节能量和各种离子电流的静态气体 Ar+ 离子束，以确保在各种应用中进行温和的表面抛光。

Thermo Scientific™ 树脂安装插件具有一些独特的优势。样品夹持非常直，所有样品都具有相同的工作距离，这在进行能谱 (EDS) 分析时非常有用。

借助 Thermo Scientific™ Nebula™ 微粒分散剂，一种在 SEM 残端上均匀分布干粉的标准方法变得可行。Nebula 通过获得单层微粒可确保较佳的样品制备，避免出现微粒簇，同时维持了脆弱微粒的结构。

通常用于过滤器残留分析和石棉分析的滤纸样品必须牢固且平坦地安装在 SEM 系统中，以进行正确分析。由于滤纸是一种敏感的样品材料，不使用插件安装这些样品可能会导致样品折叠和损坏。使用传统的（通常是高粘性的）碳胶带不能实现样品在后续分析中重新使用。适用于 Thermo Scientifc™ Phenom™ XL 的 Thermo Scientifc™ 过滤器插件有两种型号，支持 47 mm（1.85 英寸）和 25 mm（1 英寸）过滤器，这意味着 Phenom XL 可以容纳较常见的滤纸尺寸。

TEM 样品制备是显微镜使用者所遇到的最为费力和严苛的过程。生成一致且可靠的 TEM 薄片在过去需要用到高级 DualBeam 操作员。 AutoTEM 4 为薄片制备和提取提供了独特且高度自动化的方法。AutoTEM 4 充分考虑新手用户，即使是对极困难的样品，也能提供一致的样品制备。