组合聚焦离子束 - 扫描电子显微镜

凭借其独特灵活的检测方案，Thermo Scientific™ Scios™ DualBeam™ 可在高采集速度和高分辨率及低 kV 下，以出色的对比度同时检测所有信息。这使其成为对广泛样品成像的理想选择，包括非常敏感的材料。全自动镜筒校准降低了对训练有素的操作员的需求，而针对常见条件的预定义用例为每个人提供了即时生产力，这与多用户设施尤其相关。

Thermo Scientific™ Scios™ 2 DualBeam™ 是一种超高分辨率分析 FIB-SEM 系统，可为较广泛的样品（包括磁性和非导电材料）提供出色的样品制备和 3D 表征性能。通过创新性的功能设计以提高通量、精度以及易用性，Scios 2 DualBeam 是满足科学家和工程师在学术、政府以及工业研究领域高级研究和分析需求的理想解决方案。

Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra UX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合，可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。

Thermo Scientific™ Helios 5 Hydra CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第四代产品的一部分。它将新型创新的多种离子 PFIB 镜筒与单色 Thermo Scientific Elstar SEM 镜筒相结合，可提供较先进的聚焦离子和电子束性能。

Thermo Scientific™ Helios™ G4 DualBeam™ 显微镜的较新技术创新，结合较易使用、较全面的软件和赛默飞世尔科技的应用专业知识，可为广泛的材料较快速、较容易地制备位点特异性、超薄 HR-S/TEM 样品。为了获得较高的质量结果，需要使用非常低能量的离子进行最终抛光，以尽可能减少对样品表面的损坏。Thermo Scientific 较先进的 Phoenix 聚焦离子束 (FIB) 镜筒不仅提供高电压下的高分辨率成像和铣削，而且现在将卓越的 FIB 性能扩展到低至 500 V 的加速电压，从而能够制备具有亚纳米损伤层的超薄 TEM 片晶。

科学家和工程师不断面临新的挑战、需要对越来越复杂的样品的更小特征进行高度局部表征。Thermo Scientific™ HeliosG4 UC DualBeam 显微镜的较新技术创新，结合较易使用、较全面的软件和赛默飞世尔科技的应用专业知识，可为广泛的材料较快速、较容易地制备 HR-s/TEM 样品。

Thermo Scientific Helios G4 PFIB HXe DualBeam 系统提供独特的功能，除广泛的其他大面积 FIB 处理应用外，还能够实现 10 nm 半导体器件的无损伤延迟和 3D 封装的高级故障分析。

Thermo Scientific™ Helios™ G4 HX DualBeam™ 显微镜取代了高度成功的 Helios 460HP，成为行业较高通量、专用透射电子显微镜 (TEM) 片晶制备平台。Helios G4 HX DualBeam 利用具有专利权的倒置 TEM 样品制备方法，为较先进的半导体节点创建高质量的片晶。Helios G4 HX DualBeam 集成了 EasyLift EX 纳米机械手、新型自动 QuickFlip 穿梭器和 iFast 自动化软件平台，通过完全集成的自动化解决方案，为失效分析实验室提供了相当高的价值。通过低损耗透镜内检测器实现的材料对比度改善，以及在低...

通常需要进行亚表面或三维表征以更好地理解样品的结构和性质。Thermo Scientific™ Helios™ G4 CX DualBeam™ 显微镜的最新技术创新，结合较易使用、较全面的软件和赛默飞世尔科技的应用专业知识，使 Helios G4 CX DualBeam 与可选的 AS&V4 软件可获得较高质量、全自动采集的多模态 3D 数据集。结合 Avizo 可视化软件，它可提供独特的工作流程解决方案，实现纳米级的极高分辨率、先进的 3D 表征和分析。

Thermo Scientific™ Helios™ 5 UX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，将创新的 Elstar™ 电子镜筒与高电流 UC + 技术结合，以实现较高分辨率成像和较高的材料对比度，与优越的 Thermo Scientific™ Phoenix™ 聚焦离子束 (FIB) 镜筒结合，用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备。除了极其先进的电子和离子光学系统，Helios 5 UX DualBeam 还采用了一套极先进的技术，该技术能够实现简单、一致的高分辨率 S/TEM...

Thermo Scientific™ Helios™ 5 UC DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，将创新的 Elstar™ 电子镜筒与高电流 UC + 技术结合，以实现较高分辨率成像和较高的材料对比度，与优越的 Thermo Scientific Tomahawk HT 聚焦离子束 (FIB) 镜筒结合，用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备。除了极其先进的电子和离子光学系统，Helios 5 UC DualBeam 还采用了一套极先进的技术，该技术能够实现简单、一致的高分辨率 S/TEM...

Thermo Scientific™ Helios 5 PFIB Uxe 可提供优异的大体积 3D 表征、无 Ga+ 样品制备和精密微加工能力。Helios 5 PFIB UXe 是行业领先的 Helios DualBeam™ 系列第五代产品的一部分。它将新型 PFIB 镜筒和单色 Thermo Scientific Elstar™ SEM 镜筒相结合，可实现卓越的聚焦离子和电子束性能。直观的软件和前所未有的自动化水平和易用性可以让科学家和工程师观察和分析相关的亚表面体积信息。

Thermo Scientific™ Helios 5 PFIB Cxe 可提供优异的大体积 3D 表征、无 Ga+ 样品制备和精密微加工能力。Helios 5 PFIB CXe 是行业领先的 Helios DualBeam™ 系列第五代产品的一部分。它将新型 PFIB 镜筒和单色 Thermo Scientific Elstar™ SEM 镜筒相结合，可实现卓越的聚焦离子和电子束性能。直观的软件和前所未有的自动化水平和易用性可以让科学家和工程师观察和分析相关的亚表面体积信息。

Thermo Scientific™ Helios™ 5 CX DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列第五代产品的一部分。它经过精心设计，以满足科学家和工程师的需求，结合了创新的 Elstar™ 电子镜筒（可实现较高分辨率成像和较高的材料对比度）与卓越的 Thermo Scientific™ Tomahawk HT 聚焦离子束 (FIB) 镜筒（用于较快、较容易和较精确的高质量样品制备）。除了极其先进的电子和离子光学系统，Helios 5 CX DualBeam 还采用了一套极先进的技术，该技术能够实现简单、一致的高分辨率 S/TEM 和原子探针断层扫描...

Thermo Scientific™ Helios™ NanoLab 1200AT DualBeam™ 可以创建足够薄的位点特异性透射电子显微镜 (TEM) 样品，以从直径达 300 mm 的晶片中在 10 nm 节点处捕获单个晶体管。可选的自动 FOUP 装载器 (AFL) 允许系统位于半导体晶片制造厂内部，在那里它可以提供比基于实验室的分析快达三倍的关键信息。

The Thermo Scientific™ Helios 6 HD FIB-SEM is designed to meet the industry need for higher volumes of high-quality TEM data for failure analysis and metrology. This latest addition to the Thermo Scientific family of industry standard DualBeam instruments is capable of manual or semi-automated TEM...

Thermo Scientific™ Aquilos™ Cryo-FIB 是首款专门用于从生物样品中制备冷冻薄片样品的 cryo-DualBeam™（聚焦离子束/扫描电子显微镜）系统，以便在冷冻透射电子显微镜 (cryo-TEM) 中进行高分辨率断层扫描成像。冷冻电子断层扫描成像技术’能够在原生环境下呈现各种结构，让研究人员可以观察它们与细胞环境中的其他成分之间的功能关系和相互作用。这种技术有望成为科学家在分子层面上加深对生命系统认识与探索的重要工具。

更多信息可参见：Thermo Scientific Aquilos2 冷冻FIB Thermo Scientific Aquilos 2 冷冻FIB 是我们的最新一代低温-DualBeam 系统。它专用于为高分辨率低温电子断层扫描或微晶 MicroED 制备电子透明的片晶。