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电子显微镜附件
电子显微镜附件是设计为与多种电子显微镜配合使用的产品，包括软件、样品支架等。
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用于 Thermo Scientific™ Phenom XL 的 Thermo Scientific™ 拉伸样品支架。拉伸试验是最简单和使用最广泛的机械试验之一。通过测量将样品拉伸至断裂点所需的力，可以确定材料特性，从而允许设计者和质量经理预测材料和产品在其预期应用中的行为。
Thermo Scientific™ 温控样品支架由赛默飞世尔科技和 Deben 开发，旨在研究真空敏感和易受损样品，如生物、食品或有机涂层。温度受控样品支架能够控制样品的温度，因此会影响样品周围的湿度。这较大限度地降低了电子束的影响和样品的真空损伤。
Thermo Scientific™ μHeater 支架是一款高真空兼容的超快速加热样品台，可用于原位样品加热，温度可高达 1200 °C。
极限高分辨率样品支架。作为标准，与每个 Thermo Scientifc™ Phenom™ Pure/Pro(X)/Pharos 系统一起运输。优化以获得最佳成像结果，并能够适应安装在标准样品针桩上的 3D 样品。
Thermo Scientific™ 电子馈通式样品支架允许用户将电子探针连接到样品上进行原位测量。当在 SEM 中观察样品时，6 个快速释放针连接可用于待读取的各种信号以及同时施加到样品上的电压或电流。
在许多 SEM 应用中，如果样品可以倾斜和旋转，用户可以更深入地了解样品特性。考虑到这一点，专门为 Phenom XL 开发了 Thermo Scientific™ 全对中样品支架。支架包含一个子载物台，允许用户轻松安全地从所有侧面观察样品。
可使用 Thermo Scientific™ 微型工具样品支架对长轴向形状样品进行成像，无需修饰样品。使用微型工具样品支架，可对物体（如钻头、铣削工具和注射针）快速简便地成像。通过旋转和倾斜目标区域而不从支架上卸载样品，可以实现成像涂层和切割角度。
使用这种金相插件，涂层和多层样品的截面切片成像变得快速而容易。其智能的分体式夹紧机构无需使用螺钉和工具来夹紧样品。
该样品支架旨在减少样品装载量，并消除非导电样品的额外样品制备。样品（如纸、聚合物、有机材料、陶瓷、玻璃和涂层）成像变得快速和无障碍。
用于 Thermo Scientific™ Phenom™ XL 台式 SEM 的 Thermo Scientific™ 标准样品支架是紧凑型载物台，可分析高达 100 mm x 100 mm 的样品。尽管样品尺寸较大，但专有的装载梭头将通风/装载循环保持在较低值，这在实践中使通量比任何类似的 SEM 系统高出几个因素。
该 Thermo Scientific™ 样品支架的底座与标准样品支架的底座相同，只是该支架设计用于支撑使用树脂安装的样品。该支架是用于金相学和与插件配合使用时的首选解决方案。
现在可以使用 Thermo Scientific™ 电动倾斜和旋转样品支架揭示样品上所有隐藏的重要特征。样品可以有线条和孔，也可以有多层结构。新的电动倾斜和旋转样品支架允许从所有可见的侧面分析样品，并恶报获得样品独特 3D 图像。
Thermo Scientific Phenom台式 SEM 和 Thermo Scientific ParticleMetric 软件，可以简易地生成和分析 SEM 图像。集成的 ParticleMetric 软件允许用户收集许多亚微米颗粒应用的形态和粒度数据。ParticleMetric 的全自动测量允许在光学显微镜之外进行一定程度的视觉探索，这可以带来粉末设计、开发和质量控制方面的新发现和创新。 在此处查找其他信息：Phenom 台式 SEM
Thermo Scientific™ Hyperion II 系统可带来快速、准确的晶体管电性表征和故障定位功能，为半导体技术发展、良率提升以及器件可靠性的改善提供有力的支持。Hyperion II 系统卓越的稳定性可将纳米探测带入 10 nm 以下技术节点。Hyperion II 系统的 SPM 技术支持 PicoCurrent 成像，该技术可快速识别短路、开路、漏电路径和电阻触点，其灵敏度比被动式电压衬度高 1,000 倍以上。扫描电容显微镜检查 (SCM) 模块提供基于图像的 SOI 晶片故障定位，以及高分辨率掺杂剂谱图分析。
对于需要一流性能并可诊断参数失效、不良设计过程引起的多种失效模式的先进低电压高密度半导体器件开发者，Meridian-IV 系统是优先选择。 功能包括基于先进 InGaAs 的标准发射检测或基于 DBX 的高灵敏度扩展波长发射检测；获得专利、行业认可的 点选式 固体浸没透镜 (SIL)；易于 ATE 直接对接的倒置平台；与广受欢迎的第三方 EDA 应用兼容；可选的激光扫描显微镜 (LSM)，可用于静态和动态分析；易于与封装部件和晶片/晶粒背面样品配合使用；可选的 350 倍长工作距离 SIL。
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自20世纪30年代 电子显微镜 面世以来，SEM扫描电镜已成为众多不同研究领域中的一个关键工具，范围覆盖从 材料科学 、到 法医学 、工业生产甚至 生命科学 领域所涉及的一切内容。 只要需要关于样品表面或近表面区域的形貌、成分和结构信息，扫描电镜分析都是必要的步骤，SEM扫描电镜也就成为必要的工具。 赛默飞世尔科技致力于创造最适合您特定需求的SEM扫描电镜。我们提供一系列多功能 电镜设备 ，从易于使用的 Thermo Scientific Phenom 台式扫描电镜 到具备无与伦比的分辨率和对比度的强大扫描电子显微镜（例如 场发射扫描电镜Apreo SEM ， 环境扫描电镜Quattro...
电子显微镜可以激发电子形成图像，将微米和纳米结构放大至千万倍，提供惊人的精细放大水平，甚至可让研究人员观察到单个原子。 从在我们皮肤上攀爬的螨虫，到我们体内隐藏的世界，电子显微镜揭示了我们的免疫系统和疾病之间史诗般的战争，构成血液结块的缠结纤维，疾病细胞和组织如何肆虐我们的健康，我们的身体如何自行营造出生机勃勃的生态系统容纳数百万的细菌。 通过呈现材料的纳米级结构，电子显微镜为我们提供了理解材料构成、结构和性能关系纽带的方法，推动了技术进步，包括更小型化、速度更快的计算机，化学传感器，靶向药物递送，高性能材料，净水滤芯等等。,...