微区分析和电子显微镜
改善X射线微区分析

Thermo Scientific Pathfinder X射线微区分析适用于 SEM/EDS 和 SEM/WDS,避免许多传统元素X射线微区分析中出现的误区。Pathfinder 软件采用光谱成像数据作为基础,与处理算法阵列配合确保获得最精确的数据,直接提供您样本中的化学相类别。可以在数分钟内获得有用的信息,快速、无分析偏差。Pathfinder 软件将改变您EDS/EDX 和 WDS/WDX 的使用方式。

索取报价单 ›   我要支持 ›   联系我们

索取报价单,赢取赛默飞订制礼品 点击提交


快速链接

微区分析和电子显微分析推荐产品

EM-Solutions

我们创新的显微镜和应用专业知识可帮助客户找到加速突破性发现、提高生产力并最终改变世界的有意义答案。

GSR-System-Screens230x195

Phenom 台式系统可直接实现各种应用所需的高分辨率和高质量成像和分析。快速上样、超快成像,可提高故障分析、质量保障程序或料无损检测的有效性。

Pathfinder - 全部类型

使用 Thermo Scientific Quasor II 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。Quasor II EBSD 用于表征晶体结构特征(该特征影响金属、地质样品和半导体材料等各种材料的物理性质),并通过扫描电子显微镜 (SEM) 和X射线微区分析进行检测。

Pathfinder - 全部类型

使用Thermo Scientific 尔科技Lumis EBSD 系统改善金属、地质和半导体材料等样品的光谱成像。该技术可快速鉴定晶体相、晶粒尺寸和取向,并使用 EBSD 技术监测扫描电子显微镜 (SEM) 样品的结构转变,最大限度提高通量和分辨率。

Pathfinder - 全部类型

Pathfinder X 射线微区分析软件可与您电镜上的能量色散谱 (EDS) 和波长色散谱 (WDS) 配合使用。Pathfinder 软件能够创新高效地处理来自最新 X 射线检测器技术的输入数据,将分析时间由数小时大幅缩短到数分钟。

采用此款波谱仪可以为您的元素分析带来无与伦比的速度和可靠性。其内置专家系统可自动进行位置校准、分析设置与数据采集,实现真正集成化的 EDS/WDS 系统——使高分辨率微区分析如 EDS 系统一样易于使用。

UltraDry EDS 检测器

该检测器即便在超乎想像的高采集速率下也可实现出色的分辨率,能够更快速地对 X 射线进行准确判读。可以与 Pathfinder X 射线微区分析软件配合使用,是金属、采矿、先进材料和半导体行业研究的理想选择。